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低電壓臺(tái)式透射電子顯微鏡-LVEM5(材料領(lǐng)域)

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

? 世界的小型臺(tái)式透射電子顯微鏡(TEM)? 世界的多用途臺(tái)式電子顯微鏡? 透射電鏡(TEM)超茎、電子衍射(ED)芒帕、掃描電鏡(SEM)玷禽、掃描透射電鏡(STEM)四種成像模式? 分辨率:1.5nm(TEM)查蓉;10nm(SEM)? Schottky場(chǎng)發(fā)射電子槍:高亮度、高對(duì)比度? 觀察生物樣品無需染色? 體積僅為傳統(tǒng)透射電鏡1/10榜贴,操作維護(hù)簡(jiǎn)單LVEM5應(yīng)用領(lǐng)域材料學(xué)豌研、生物學(xué)

詳細(xì)介紹

LVEM5臺(tái)式透射電鏡特點(diǎn):


臺(tái)式設(shè)計(jì):體積小巧,靈活性高沈猜,價(jià)格低

傳統(tǒng)透射電子顯微鏡體積龐大淌璧,對(duì)放置環(huán)境有著嚴(yán)格的要求,并且需要制冷機(jī)等外置設(shè)備奈炕。通常會(huì)占據(jù)整間實(shí)驗(yàn)室禽忧。

Delong America公司的LVEM5從根本上區(qū)別于傳統(tǒng)電鏡,尺寸較傳統(tǒng)電鏡縮小了90%书尚,對(duì)放置環(huán)境無嚴(yán)格要求丧足,無需任何外置冷卻設(shè)備,可以安裝用戶所需的任意實(shí)驗(yàn)室或辦公室桌面泻磅,是目前的電子顯微鏡蜗胖。




Schottky場(chǎng)發(fā)射電子槍:高亮度/高對(duì)比度

電子槍類型是決定電鏡性能的重要參數(shù)。LVEM5采用特殊設(shè)計(jì)的倒置肖特基(Schottky)場(chǎng)發(fā)射電子槍煞松,提供高亮度高相干的電子束袄雷。電子槍使用壽命可達(dá)2000小時(shí)以上。

傳統(tǒng)TEM多采用100kV以上電子束加速電壓芳争,高能電子束不能區(qū)分輕材料中相近的密度和原子序數(shù)跑事,對(duì)于輕元素樣品(C、N懈词、O樣品蛇耀,生物樣品)難以獲得好的對(duì)比度,影響圖像質(zhì)量坎弯。

LVEM5采用5kV低電壓設(shè)計(jì)纺涤,低電壓電子束對(duì)密度和原子序數(shù)有很高的靈敏度,對(duì)于小到0.005 g/cm3的密度差別仍能得到很好的圖像對(duì)比度抠忘。例如撩炊,對(duì)20nm碳膜樣品,5KV電壓下比100KV電壓下對(duì)比度提高10倍以上崎脉,而LVEM5的空間分辨率在低電壓下仍能達(dá)到1.5nm拧咳。


操作簡(jiǎn)單,換樣快捷囚灼,成本低廉

LVEM5直觀的用戶界面骆膝、簡(jiǎn)便的控制臺(tái)設(shè)計(jì),使用戶僅需極少的培訓(xùn)灶体,即可輕松操作阅签。讓用戶在使用時(shí)更加舒適掐暮。

不同于傳統(tǒng)透射電鏡每次更換樣品后需要幾十分鐘的抽真空時(shí)間,LVEM5更換樣品僅需3min卡宛,節(jié)省大量時(shí)間蛙檐。

LVEM5購置費(fèi)用遠(yuǎn)低于傳統(tǒng)電鏡狐怯,且在一款儀器中集成了透射電鏡與掃描電鏡功能胚闲,真正的物超所值。LVEM5的設(shè)計(jì)優(yōu)勢(shì)颜肥,在使用中無需冷卻水缭柄,無需專業(yè)實(shí)驗(yàn)室,維持成本極低退厕。



四種成像模式

TEM模式

LVEM5是世界上的臺(tái)式透射電子顯微鏡软架,同時(shí)也是的低電壓透射電鏡(5kV)。同傳統(tǒng)透射電鏡(80-200kV)相比寸颇,LVEM5增加了電子束與樣品的相互作用弄讥,從而:

? 提高了圖像對(duì)比度

? 無需重金屬染色即可觀察輕元素樣品(如生物樣品)

? 避免染色造成的假象,觀察樣品真實(shí)結(jié)構(gòu)

分辨率2nm础健,放大倍數(shù) 5000-202,000x谋啃,圖像采集:2048 x 2048

添加TEM升級(jí)選件,分辨率提升至1.5nm蹂喻,放大倍數(shù) 50萬倍

SEM模式

掃描電鏡(SEM)模式可用于觀察任意固體樣品葱椭。在SEM模式下,LVEM5采用4分割背散射探測(cè)器口四,提供多個(gè)觀測(cè)角度孵运。

普通掃描電鏡在觀察不導(dǎo)電樣品時(shí),需要對(duì)樣品進(jìn)行噴金蔓彩、噴碳處理治笨,以增加樣品導(dǎo)電性。LVEM5的另一優(yōu)點(diǎn)在于赤嚼,無需噴金可直接觀測(cè)不導(dǎo)電樣品大磺。

分辨率10nm,放大倍數(shù) 640x - 100,000x探膊,圖像采集像素:2048 x 2048

STEM模式

在掃描透射電子顯微鏡(STEM)模式下杠愧,電子束被聚焦到很小直徑,在樣品上進(jìn)行掃描逞壁×骷茫可用于觀察厚度較厚的樣品或染色樣品。

ED模式

電子衍射(ED)可用于確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)债轰、結(jié)晶度铆糙、相組成缕翁。


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