neaSNOM近場光學顯微鏡技術特點和優(yōu)勢:
? neaSNOM是目前世界上成熟的s-SNOM產(chǎn)品
? 保護的散射式近場光學測量技術
—的10 nm空間分辨率
? 的高階解調(diào)背景壓縮技術
—在獲得10nm空間分辨率的同時保持的信噪比
? 保護的干涉式近場信號探測單元
? 的贗外差干涉式探測技術
—能夠獲得對近場信號強度和相位的同步成像
? 保護的反射式光學系統(tǒng)
—用于寬波長范圍的光源:可見、紅外以至太赫茲
? 高穩(wěn)定性的AFM系統(tǒng)镊僚,
—同時優(yōu)化了納米尺度下光學測量
? 雙光束設計
—的光學接入角:水平方向180°寿针,垂直方向60°
? 操作和樣品準備簡單
—僅需要常規(guī)的AFM樣品準備過程