詳細(xì)介紹
C640硅片厚度測(cè)定儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式傻铣,嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求章贞,有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜矾柜、薄片阱驾、隔膜、紙張怪蔑、箔片里覆、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量
硅片厚度測(cè)定儀產(chǎn)品特點(diǎn):
專業(yè)——Labthink在不斷的創(chuàng)新研發(fā)和技術(shù)積累中推陳出新,使用超高精度的位移傳感器缆瓣、科學(xué)的結(jié)構(gòu)布局及專業(yè)的控制技術(shù)哮瓦,實(shí)現(xiàn)*的測(cè)試穩(wěn)定性、重復(fù)性及精度啼厌。
高效——采用高效率岛盗、自動(dòng)化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),有效簡(jiǎn)化人員參與過程;智能的控制及數(shù)據(jù)處理功能萄尽,為用戶提供更便捷可靠的試驗(yàn)操作和結(jié)果處理记辖。
智能——搭載Labthink新版控制分析軟件,具有友好的操作界面倡照、智能的數(shù)據(jù)處理苗圃、嚴(yán)格的人員權(quán)限管理和安全的數(shù)據(jù)存儲(chǔ);支持Labthink*的DataShieldTM數(shù)據(jù)盾系統(tǒng)注3(可選配置)声屯,為用戶提供極為安全可靠的測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試報(bào)告管理功能惫饲。
測(cè)試原理:
將預(yù)先處理好的薄型試樣的一面置于下測(cè)量面上,與下測(cè)量面平行且中心對(duì)齊的上測(cè)量面去园,以一定的壓力裤础,落到薄型試樣的另一面上,同測(cè)量頭一體的傳感器自動(dòng)檢測(cè)出上下測(cè)量面之間的距離蜓谋,即為薄型試樣的厚度梦皮。
參照標(biāo)準(zhǔn):
ISO 4593、ISO 534孤澎、ASTM D6988届氢、ASTM F2251、GB/T 6672覆旭、GB/T 451.3退子、TAPPI T411、BS 2782-6型将、DIN 53370寂祥、ISO 3034、ISO 9073-2七兜、ISO 12625-3丸凭、ISO 5084、ASTM D374腕铸、ASTM D1777惜犀、ASTM D3652、GB/T 6547裂体、GB/T 24218.2势纺、FEFCO No 3、EN 1942息队、JIS K6250演茂、JIS K6783、JIS Z1702
中國《藥品生產(chǎn)質(zhì)量管理規(guī)范》(GMP)對(duì)軟件的有關(guān)要求(可選配置)
測(cè)試應(yīng)用:
基礎(chǔ)應(yīng)用 薄膜沿硕、薄片件银、紙
擴(kuò)展應(yīng)用 金屬片、硅片、瓦楞紙板郊片、紡織材料度籍、非織造布、其它材料
技術(shù)參數(shù):
C640M
測(cè)試范圍(標(biāo)配) 0~2mm
分辨率 0.1μm
重復(fù)性 0.8μm
測(cè)量范圍(選配1) 0~6mm
測(cè)量范圍(選配2) 0~12mm
測(cè)量間距 0~1000(可設(shè)定)mm
進(jìn)樣速度 1.5~80(可設(shè)定)mm/s
測(cè)量方式機(jī)械接觸式
測(cè)量壓力及接觸面積薄膜:17.5±1 kPa焚惰、50 mm2
紙張:100±1 kPa(標(biāo)準(zhǔn)配置) / 50±1 kPa(可選配置)别主、200 mm2
C640H
測(cè)試范圍(標(biāo)配) 0~2mm
分辨率 0.1μm
重復(fù)性 0.4μm
測(cè)量范圍(選配1) 0~6mm
測(cè)量范圍(選配2) 0~12mm
測(cè)量間距 0~1000(可設(shè)定)mm
進(jìn)樣速度 1.5~80(可設(shè)定)mm/s
測(cè)量方式機(jī)械接觸式
測(cè)量壓力及接觸面積薄膜:17.5±1 kPa、50 mm2
紙張:100±1 kPa(標(biāo)準(zhǔn)配置) / 50±1 kPa(可選配置)阎瘩、200 mm2
外形尺寸:370mm(L)×350mm(W)×410mm(H)
凈重:26kg
濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司()擁有*的檢測(cè)技術(shù)與專業(yè)實(shí)驗(yàn)室,致力于為行業(yè)客戶提供全面碰缔、*的質(zhì)量控制解決方案账劲,專業(yè)技術(shù)濟(jì)南蘭光!